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清华博士后、教师获IEEE超大规模集成电路年度会议最佳论文奖

  清华新闻网8月29日电 8月19-21日,在美国马萨诸塞大学阿姆赫斯特分校召开的第11届IEEE超大规模集成电路年度会议(IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI,ISVLSI 2012)上,清华大学电子系电路与系统研究所博士后罗洪的论文《考虑RTN效应的纳米级电路性能退化的评测与抑制方法》(Temporal Performance Degradation under RTN: Evaluation and Mitigation for Nanoscale Circuits)获最佳论文奖。这是大陆研究人员作为第一作者的论文首次获得该会议最佳论文奖。我校电子系汪玉、杨华中,计算机系马昱春等为论文共同作者。

  该论文的研究工作建立了电路级考虑RTN的性能仿真平台,提出采用针对独立随机变量求和的采样和分组方法,降低了基于路径的性能概率分布仿真的复杂度(由指数变成线性),使得考虑RTN的大规模数字电路的性能仿真成为可能。

  此次大会共收到来自世界各地的论文200余篇,其中3篇被评为最佳论文奖。

供稿:电子系 编辑:冰 冰

(http://news.tsinghua.edu.cn)
[更新:2012-08-29 10:22:59]
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